MX63的观察合成功能,让半导体全面显现
奥林巴斯特有的MIX成像技术,通过将不同形式下对半导体观察的结果进行汇总合成,呈现出被观察物的完美观察画面。这令在常规显微镜观测下,因光源的不同,或存在的反光等影响,造成的不可见的全貌视图,实现全面清晰展现。
奥林巴斯半导体显微镜MX63的成像功能实现起来非常便捷。通过其特有的多图像拼接(MIA)功能,使用者只需操控按键或者旋钮,显微镜的自动程序便会快速对图像进行拼接,完全是实时地生成全景观测图像。包括能够采集高度超出景深范围的半导体观察图像,这一高级功能,能够合成一幅全聚焦的更大范围地观察图像。
MX63对半导体既观察又测量
因为半导体的多样,导致实际上半导体没有统一的可以自动实现的观测标准。所以,能够快速进行观测不同结构形式的半导体显微镜才是研发生产中最需要的。奥林巴斯半导体显微镜MX63对于显微镜测量功能的研发投入了大量资源,实现了面向工作流程的自动观测功能。使用者只需按动一下观测键,即可针对同批次或者同类别的半导体产品进行快速精准的图像分析。这为一线的工程师带来巨大的便利,节省了非常多的有效工作时间。
MX63配套先进的无尘测量系统
半导体研发和生产环境要求无尘化,针对这一苛刻要求,奥林巴斯半导体显微镜MX63特别设计了无尘化的测量系统。
一是使用配套奥林巴斯半导体显微镜MX63研发的半导体搬送机,快捷而安全地将半导体搬运至显微镜MX63的载物台上。
二是显微镜MX63的相关电动组件均设计为防静电模式,且有防护壳进行二次保护。
三是所有的物镜均使用电动物镜转换器,隔离操作员同半导体的接触,从而防止污染产生。这样的设计,不仅仅是防控了污染风险,更是提高了样品采集和观测效率。
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